內(nèi)存檢測失敗導致不能啟動的解決方法

　　CPU中央處理器是一塊超大規(guī)模的集成電路，是一臺計算機的運算核心和控制核心。它的功能主要是解釋計算機指令以及處理計算機軟件中的數(shù)據(jù)。中央處理器主要包括運算器和高速緩沖存儲器(Cache)及實現(xiàn)它們之間聯(lián)系的數(shù)據(jù)控制及狀態(tài)的總線。它與內(nèi)部存儲器和輸入/輸出設備合稱為電子計算機三大核心部件。

　　內(nèi)存檢測失敗導致不能啟動

　　問：我的計算機使用兩條現(xiàn)代256MB DDR的內(nèi)存，使用了一年多一直正常，但現(xiàn)在出現(xiàn)了故障，開機時提示“Memory test fail”，計算機不能啟動，請問該如何解決?

　　答：這種故障是因為計算機在啟動時檢測內(nèi)存失敗，導致計算機不能啟動。導致計算機檢測內(nèi)存失敗的原因有很多，比如內(nèi)存與插槽接觸不良、內(nèi)存“金手指”氧化斷裂、內(nèi)存芯片損壞、內(nèi)存插槽損壞等。要解決這種故障，首先打開機箱拔下內(nèi)存，再重新插緊、插好，開機檢查計算機能否啟動;若故障仍存在，就要檢查“金手指”是否被氧化、內(nèi)存條是否斷裂損壞，并仔細查看內(nèi)存插槽內(nèi)的針是否有損壞等，并用一塊干凈的橡皮將“金手指”上的氧化物、污物擦干凈，重新插到內(nèi)存插槽上，再開機看能否啟動;若仍不能解決，可分別只使用一根內(nèi)存啟動，并嘗試分別插在不同DIMM插槽上看看是否能啟動，分批檢測來找出有故障的內(nèi)存或內(nèi)存插槽。